電子產(chǎn)品,不管是元件,部件,整機(jī),設(shè)備,都要進(jìn)行老化和測(cè)試.老化和測(cè)試不是一個(gè)概念.先老化后測(cè)試.電子產(chǎn)品（所有產(chǎn)品都是這樣）通過(guò)生產(chǎn)制造后,形成了完整的產(chǎn)品,已經(jīng)可以發(fā)揮使用價(jià)值了,但使用以后發(fā)現(xiàn)會(huì)有這樣那樣的毛病,又發(fā)現(xiàn)這些毛病絕大部分發(fā)生開(kāi)始的幾小時(shí)至幾十小時(shí)之內(nèi),后來(lái)干脆就規(guī)定了電子產(chǎn)品的老化和測(cè)試,仿照或者等效產(chǎn)品的使用狀態(tài),這個(gè)過(guò)程由產(chǎn)品制造者來(lái)完成.通過(guò)再測(cè)試,把有問(wèn)題的產(chǎn)品留在工廠,沒(méi)問(wèn)題的產(chǎn)品給用戶,以保證買(mǎi)給用戶的產(chǎn)品是可靠的或者是問(wèn)題較少的.這就是老化測(cè)試的意義.

分為元器件老化和整機(jī)老化。尤其是新產(chǎn)品，要考核新的元器件或整機(jī)的性能，老化指標(biāo)更高。
老化使產(chǎn)品的缺陷在出廠前暴露，如焊接點(diǎn)的可靠性,產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、材料和工藝方面的各種缺陷；老化使產(chǎn)品性能進(jìn)入穩(wěn)定區(qū)間后出廠，減少返修率。